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低溫壓痕校準理論方法與典型材料試驗研究

發(fā)布時間:2024-05-17 01:18
  微納米壓痕測試技術由于具有快速測試,精度高和無需專門制作試樣等特點,已逐漸發(fā)展成為材料微區(qū)力學性能測試的一項主流技術。但隨著低溫環(huán)境應用領域的迅猛發(fā)展,材料在低溫嚴苛環(huán)境下的特性面臨著更高的要求,常規(guī)壓痕試驗已無法滿足測試需求,且現(xiàn)有低溫壓痕測試技術尚不成熟,進一步限制了對材料在低溫下力學行為的研究工作。因此,發(fā)展低溫微納米壓痕測試技術,對典型材料進行低溫下的性能測試與調控,開展針對新現(xiàn)象與新規(guī)律的研究,具有重要科學意義和廣泛應用前景。為此,本文基于自制的低溫壓痕測試儀器,進行了其工況環(huán)境下的標定校準工作,提出了低溫環(huán)境下壓痕測試誤差分析方法,消除了溫度對壓痕測試過程與后處理分析的影響。相比現(xiàn)有的低溫壓痕測試儀器與方法,本文獲取了更為準確的壓痕測試曲線與試驗材料物理特性,為材料的低溫性能分析、制備及使用提供了重要的試驗依據(jù),此外,通過對應用最為廣泛的兩種典型單晶材料進行了試驗分析,獲取了其低溫下的力學性質并研究了其相關微尺度新現(xiàn)象。論文主要研究工作如下:(1)歸納了Oliver-Pharr經典壓痕測試分析方法數(shù)據(jù)處理過程,并介紹了本文所采用的低溫壓痕測試系統(tǒng)的模塊組成及機械結構。對測試...

【文章頁數(shù)】:131 頁

【學位級別】:博士

【部分圖文】:

圖1.1壓痕測試技術早期理論(a)赫茲接觸[30];(b)壓痕彈性恢復[31]

圖1.1壓痕測試技術早期理論(a)赫茲接觸[30];(b)壓痕彈性恢復[31]

捎酶帽曜糩27],我國GB/T21838.1~4標準則完全等效于該四項標準[28]。2015年,為適應壓痕測試的發(fā)展與技術革新,ISO14577.1~3-2015正式頒布[29],壓痕測試技術在近三十年的發(fā)展過程中經歷了從青澀到成熟,再到標準化的過程。本節(jié)主要從壓痕測試技術的發(fā)展....


圖1.2經典壓痕測試技術發(fā)展歷程(a)Newey[33];(b)Loubet[34];(c)Doerner和Nix[35]

圖1.2經典壓痕測試技術發(fā)展歷程(a)Newey[33];(b)Loubet[34];(c)Doerner和Nix[35]

第1章緒論3圖1.2經典壓痕測試技術發(fā)展歷程(a)Newey[33];(b)Loubet[34];(c)Doerner和Nix[35]1.2.2環(huán)境壓痕測試技術壓痕測試技術發(fā)展至今,其常規(guī)環(huán)境下的基本力學功能已經得到充分的開發(fā)并逐漸進入了瓶頸期,同時為了更好地適應當前材料應用領域....


圖1.3電化學腐蝕環(huán)境壓痕測試[36]

圖1.3電化學腐蝕環(huán)境壓痕測試[36]

第1章緒論3圖1.2經典壓痕測試技術發(fā)展歷程(a)Newey[33];(b)Loubet[34];(c)Doerner和Nix[35]1.2.2環(huán)境壓痕測試技術壓痕測試技術發(fā)展至今,其常規(guī)環(huán)境下的基本力學功能已經得到充分的開發(fā)并逐漸進入了瓶頸期,同時為了更好地適應當前材料應用領域....


圖1.4電化學反應中電極壓痕測試[37]

圖1.4電化學反應中電極壓痕測試[37]

第1章緒論3圖1.2經典壓痕測試技術發(fā)展歷程(a)Newey[33];(b)Loubet[34];(c)Doerner和Nix[35]1.2.2環(huán)境壓痕測試技術壓痕測試技術發(fā)展至今,其常規(guī)環(huán)境下的基本力學功能已經得到充分的開發(fā)并逐漸進入了瓶頸期,同時為了更好地適應當前材料應用領域....



本文編號:3975176

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