發(fā)布時(shí)間：2020-04-02 22:53

【摘要】：在質(zhì)量管理領(lǐng)域,統(tǒng)計(jì)過程控制(SPC)成為重要的研究工具。SPC可以檢測(cè)過程的穩(wěn)定性從而降低產(chǎn)品質(zhì)量差異。通過過程監(jiān)控,分析生產(chǎn)過程的運(yùn)行狀態(tài)并對(duì)異常點(diǎn)進(jìn)行識(shí)別進(jìn)而處理,保證過程處于穩(wěn)定的狀態(tài)進(jìn)而產(chǎn)品和服務(wù)的質(zhì)量得到保證。隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展,目前過程監(jiān)控的數(shù)據(jù)已經(jīng)不單單呈現(xiàn)一元的狀態(tài)。在質(zhì)量控制中由于數(shù)據(jù)呈現(xiàn)出非常復(fù)雜的狀態(tài),在這種情況下,過程或產(chǎn)品的質(zhì)量可以描繪成輪廓線(Profile)或函數(shù)數(shù)據(jù)(Functional Data)。輪廓線是響應(yīng)變量對(duì)應(yīng)一個(gè)或多個(gè)解釋變量的函數(shù)關(guān)系。輪廓監(jiān)控分為兩個(gè)階段:第一階段是基于采集到的樣本數(shù)據(jù),以確定采樣點(diǎn)是否失控。將失控樣本數(shù)據(jù)移除建立穩(wěn)定可控的模型;第二階段是在第一階段過程已經(jīng)受控的基礎(chǔ)上監(jiān)控實(shí)時(shí)樣本點(diǎn)并監(jiān)測(cè)實(shí)時(shí)變化。本文研究的輪廓線異常點(diǎn)識(shí)別問題位于輪廓線監(jiān)控的第一階段。第一階段有效識(shí)別出過程中出現(xiàn)的小部分異常點(diǎn)是非常重要的。異常點(diǎn)(Outliers)預(yù)示著系統(tǒng)中的異常狀態(tài),這些異常點(diǎn)是需要剔除的,但有時(shí)異常點(diǎn)也顯示出一些有用信息,甚至是重大發(fā)現(xiàn)。異常點(diǎn)在網(wǎng)絡(luò)安全、視覺監(jiān)控、遙感技術(shù)、內(nèi)科診斷學(xué)等領(lǐng)域均有較多應(yīng)用。在質(zhì)量監(jiān)控領(lǐng)域,輪廓數(shù)據(jù)通常表現(xiàn)為非線性狀態(tài),因此需要更加復(fù)雜的模型進(jìn)行分析。本文針對(duì)非線性輪廓異常點(diǎn)識(shí)別問題,綜合運(yùn)用小波分析、數(shù)據(jù)深度、聚類分析等數(shù)據(jù)分析方法,除提出隨機(jī)變量服從標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布的異常點(diǎn)識(shí)別問題方法外,還驗(yàn)證隨機(jī)變量服從非正態(tài)分布下的異常點(diǎn)識(shí)別方法的有效性。本文運(yùn)用仿真技術(shù),將本文提出方法與χ~2控制圖方法進(jìn)行對(duì)比,結(jié)果證明本文所提方法表現(xiàn)出更好的異常點(diǎn)識(shí)別性能,以更高的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確率識(shí)別異常點(diǎn)。最后將方法應(yīng)用于木板實(shí)例對(duì)方法進(jìn)行驗(yàn)證,結(jié)果表現(xiàn)出新方法能夠有效識(shí)別出木板異常數(shù)據(jù)。
【圖文】：

本文組織結(jié)構(gòu)圖

（4） 替代了樣本抽樣等傳統(tǒng)檢測(cè)方法，通過系統(tǒng)的監(jiān)測(cè)實(shí)時(shí)報(bào)告質(zhì)量異的產(chǎn)品；通過 SPC 統(tǒng)計(jì)過程控制技術(shù)，企業(yè)可以降低產(chǎn)品次品率，減少人工檢測(cè)質(zhì)的成本從而提高生產(chǎn)效率，提高企業(yè)核心競(jìng)爭(zhēng)力。2.1.2 SPC 重要工具控制圖基本原理控制圖是由美國著名學(xué)者休哈特首次提出的，休哈特將控制圖命名為休哈控制圖。通過控制圖可以將產(chǎn)品生產(chǎn)過程表示出來并且可以不斷判斷生產(chǎn)過程否處于可控狀態(tài)�？刂茍D是一種能夠判斷并預(yù)測(cè)生產(chǎn)過程是否處于穩(wěn)定狀態(tài)或常的重要工具，控制圖也是可以通過自動(dòng)檢測(cè)來保證生產(chǎn)產(chǎn)品或服務(wù)的過程從至終處于穩(wěn)定狀態(tài)的重要工具�？刂茍D是統(tǒng)計(jì)過程控制中最有效的監(jiān)控異常工控制圖的示例圖如圖 2－1 所示。橫坐標(biāo)是隨時(shí)間推移先后排列的樣本序號(hào)，坐標(biāo)是質(zhì)量特性值。中心線記為 ControlLimit（CL），除中心線外，，在中心線下分別由兩條控制界限，稱為上控制線（Upper Control Limit, UCL）、下控制（Lower Control Limit, LCL）。
【學(xué)位授予單位】：天津大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2018
【分類號(hào)】：TB114.2

【共引文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：2612549