發(fā)布時(shí)間：2024-12-27 06:38

　　目的:觀察比較正常牙本質(zhì)(ND)與玻璃陶瓷用兩種全酸蝕樹(shù)脂粘接劑粘接后試件剪切強(qiáng)度、斷裂類型及粘接界面納米滲漏情況,評(píng)價(jià)這兩種粘接劑的粘接強(qiáng)度及界面封閉性,為臨床粘接劑的選擇提供參考。方法:收集40顆完整無(wú)齲的第三磨牙,在流動(dòng)水冷卻的條件下用高速車針打磨去除冠方牙釉質(zhì)及少量牙本質(zhì)使冠中部牙本質(zhì)暴露,牙本質(zhì)面用車針修磨平整,保證每個(gè)牙本質(zhì)塊獲得4mm*4mm大小的正常牙本質(zhì)面,共預(yù)備40個(gè)正常牙本質(zhì)塊。預(yù)備的牙本質(zhì)塊通過(guò)隨機(jī)數(shù)字表法分為A、B兩組,每組再隨機(jī)分成兩個(gè)粘接組。A組中的兩個(gè)粘接組分別使用全酸蝕系統(tǒng)粘接劑Variolink N和U.link與玻璃陶瓷粘接,完成試件粘接后,儲(chǔ)存試件于37℃的蒸餾水中24h。用萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)檢測(cè)粘結(jié)試件剪切強(qiáng)度,并在體式顯微鏡下觀察試件破壞模式。B組的兩個(gè)粘接組亦分別使用全酸蝕系統(tǒng)粘接劑Variolink N和U.link與玻璃陶瓷粘接,完成試件粘接后,儲(chǔ)存試件于37℃的蒸餾水中24h。試件在氨化硝酸銀溶液中染色后置于場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(FESEM)下并配合使用X射線能譜儀(EDS)做能譜分析觀察比較粘接界面的納米滲漏情況。結(jié)果:1.獨(dú)立樣本t檢驗(yàn)分析兩組剪...

【文章頁(yè)數(shù)】：43 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

圖1 Variolink N組試件混合破環(huán)(體視顯微鏡×40)

見(jiàn)表1、表2。兩組剪切強(qiáng)度比較，VariolinkN組[(14.45±2.35)MPa]顯著高于U.link組[(6.39±1.43)MPa]，差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P<0.05)。兩組斷裂模式差異無(wú)統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P>0.05),VariolinkN組的斷裂模式主要為混合斷裂，而U....

圖2 U.link組試件牙本質(zhì)與粘接劑界面破壞(體視顯微鏡×40)

圖1VariolinkN組試件混合破環(huán)(體視顯微鏡×40)2.2粘接界面納米微滲漏比較

圖3 典型EDS能譜圖

見(jiàn)表3，圖3、圖4。EDS分析顯示鈣元素主要分布于牙本質(zhì)，銀元素主要分布于牙本質(zhì)與粘接劑界面，而陶瓷與粘接劑界面未見(jiàn)銀元素，硅元素和鋁元素主要分布于樹(shù)脂粘接劑。VariolinkN組納米滲漏值為18.02±14.07(%),U.link組為17.37±12.80(%)，差異無(wú)統(tǒng)....

圖4 粘接界面的納米微滲漏情況(場(chǎng)發(fā)射掃面電鏡×1000)，箭頭所示為沉積銀元素，d為牙本質(zhì)，ad為粘接劑

本實(shí)驗(yàn)中粘接試件主要發(fā)生混合破壞和牙本質(zhì)-樹(shù)脂粘接劑界面破壞，僅少數(shù)發(fā)生陶瓷-樹(shù)脂粘接劑界面破壞，并且兩種樹(shù)脂粘接劑斷裂模式的頻數(shù)分布差異無(wú)顯著性。理論上當(dāng)有兩個(gè)界面時(shí)，破壞從較弱的界面開(kāi)始[10]。因此說(shuō)明這兩種樹(shù)脂粘接劑對(duì)玻璃陶瓷的粘接力優(yōu)于牙本質(zhì)，這也與GundogduM....

本文編號(hào)：4021286