焊縫缺陷射線數(shù)字成像參考圖像研究
【文章頁(yè)數(shù)】:84 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【部分圖文】:
圖2-1非晶硅平板探測(cè)器結(jié)構(gòu)圖
圖2-1非晶硅平板探測(cè)器結(jié)構(gòu)圖的主要作用是吸收X射線,實(shí)現(xiàn)射線能板拼接兩種結(jié)構(gòu),閃爍體層材料主要有碘m之間。非晶硅光電二極管作用是捕獲用是將像素單元中的電信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字電路組成。測(cè)器成像的基本過程為:入射X射線通轉(zhuǎn)變?yōu)闊晒獍l(fā)射,熒光通過閃爍體傳輸至接收熒光信號(hào)并將其....
圖2-3膠片特性曲線
大學(xué)碩士學(xué)位論文第2章焊縫射線DR成像及般情況下,探測(cè)器對(duì)比度是用在一定的曝光量差引起的探測(cè)器響應(yīng)表示的。在膠片照相中,使用一定的曝光量差引起的光學(xué)密度變化度。在平板探測(cè)器成像系統(tǒng)中則使用給定的曝光量差引起的灰度值比度。膠片特性曲線表示了膠片黑度隨射線曝光量變化的特性....
圖2-4平板探測(cè)器響應(yīng)曲線
大學(xué)碩士學(xué)位論文第2章焊縫射線DR成像及般情況下,探測(cè)器對(duì)比度是用在一定的曝光量差引起的探測(cè)器響應(yīng)表示的。在膠片照相中,使用一定的曝光量差引起的光學(xué)密度變化度。在平板探測(cè)器成像系統(tǒng)中則使用給定的曝光量差引起的灰度值比度。膠片特性曲線表示了膠片黑度隨射線曝光量變化的特性....
圖2-7X射線DR檢測(cè)系統(tǒng)
圖2-7X射線DR檢測(cè)系統(tǒng)為某航空企業(yè)提供的標(biāo)準(zhǔn)焊接試樣,試樣材料為鋁合焊接方法為鎢極氬弧焊,數(shù)量100件。試樣的尺寸為材厚度為2mm,如圖2-8所示。圖2-8部分焊接試樣照片DR成像檢測(cè)工藝檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確與可靠性,以鋁合金搭接焊縫為研究檢測(cè)工藝研究。依....
本文編號(hào):3997902
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