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基于性能退化數(shù)據(jù)的產(chǎn)品可靠性建模

發(fā)布時(shí)間:2024-06-14 04:19
  在工程應(yīng)用中,系統(tǒng)大都是在多種失效模式的共同作用下失效,特別是復(fù)雜系統(tǒng)的各失效模式之間相互作用、相互影響。系統(tǒng)在工作運(yùn)行期間,并非只存在正常和失效兩種狀態(tài),而是一種連續(xù)退化的隨機(jī)過(guò)程。系統(tǒng)的性能隨時(shí)間的變化逐漸產(chǎn)生退化,當(dāng)退化值超過(guò)規(guī)定閾值后失效,這個(gè)過(guò)程廣泛存在于系統(tǒng)運(yùn)行和貯存中,直到性能參數(shù)退化超過(guò)閾值,即達(dá)不到規(guī)定功能所需的值,系統(tǒng)便會(huì)失效。現(xiàn)代產(chǎn)品通常具有復(fù)雜的組成結(jié)構(gòu)和高可靠性,其運(yùn)行過(guò)程中會(huì)表現(xiàn)出多種類型的退化模式,即一個(gè)產(chǎn)品由多個(gè)部件組成,其中每個(gè)組件都有各自的退化模式,甚至每個(gè)部件都會(huì)表現(xiàn)出多類型退化模式。典型的失效率函數(shù)呈現(xiàn)浴盆形狀,所以說(shuō)對(duì)于同一個(gè)部件的退化,也可能會(huì)在運(yùn)行期間呈現(xiàn)出不同的退化過(guò)程:早期、偶然和耗損三個(gè)故障階段,產(chǎn)生三個(gè)階段的主要原因也各有不同,早期故障期主要由于生產(chǎn)過(guò)程的因素導(dǎo)致;偶然故障期是產(chǎn)品最佳的的工作階段;耗損故障期意味著產(chǎn)品性能變劣,壽命進(jìn)入末期。本文首先針對(duì)Wiener過(guò)程模型和Gamma過(guò)程模型的退化進(jìn)行研究。理論上,Wiener過(guò)程和Gamma過(guò)程一般適用于描述線性退化產(chǎn)品,但實(shí)際上非線性退化的產(chǎn)品卻占大多數(shù);個(gè)體之間的退化也會(huì)因?yàn)?..

【文章頁(yè)數(shù)】:60 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】:碩士

【部分圖文】:

圖1-1航空發(fā)動(dòng)機(jī)EGTM性能觀測(cè)數(shù)據(jù)

圖1-1航空發(fā)動(dòng)機(jī)EGTM性能觀測(cè)數(shù)據(jù)

力加速壽命試驗(yàn),根據(jù)獲取的故障時(shí)間數(shù)據(jù)對(duì)數(shù)控系統(tǒng)PCB進(jìn)行可靠性建模估。2.3基于退化數(shù)據(jù)的可靠性建模與評(píng)估產(chǎn)品的性能特征隨著使用時(shí)間的推移而退化,外因是載荷的作用,內(nèi)因是其材料的特性發(fā)生了不可逆的變化。一般認(rèn)為產(chǎn)品的性能參數(shù)首達(dá)其失效閾值品失效,而產(chǎn)品的性能參數(shù)通常通過(guò)一....


圖3.3極大似然參數(shù)估計(jì)流程

圖3.3極大似然參數(shù)估計(jì)流程

第三章基于單性能退化數(shù)據(jù)的光纖陀螺可靠性建模與評(píng)估27則產(chǎn)品可靠度函數(shù)R(t)可以表示為:22()()exp()()DtDDtRttt(3.12)3.3.2單性能退化光纖陀螺可靠性模型參數(shù)估計(jì)結(jié)合表3.1所示的退化數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu),記第i只光纖陀螺在時(shí)刻12()ijiiimtttt的退化....



本文編號(hào):3994130

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