銪鏑摻雜鋁酸鍶長余輝材料發(fā)光過程的研究
【學位單位】:中國地質(zhì)大學(北京)
【學位級別】:碩士
【學位年份】:2018
【中圖分類】:TQ422;O482.31
【部分圖文】:
圖 1-1 位形坐標圖(祁康成,2012)置,使周圍離子處于一個新的平衡點,即圖中的 C 點。在這個過程中,電能量交給了周圍的離子,變成它們的振動能,并通過他們傳給整個晶體,式散發(fā)。此時系統(tǒng)能量由 B 降為 C。電子由 C 躍遷到基態(tài)的 D,經(jīng)過系降到 A 點,這時又散發(fā)了一些熱能給晶體。圖中的橫線代表離子的振動能于電子的躍遷可以處于很高的振動能級,在其回到平衡位置時釋放大量聲即為晶格弛豫過程。由圖分析可知該材料的發(fā)射帶波長大于吸收帶的波長合,即斯托克斯位移;與該現(xiàn)象相反的為反斯托克斯位移。圖中兩曲線的無輻射躍遷,即該躍遷不發(fā)生光子吸收或輻射現(xiàn)象。只有當原子的振動點或高于 F 點時,原子隨熱運動發(fā)生的這種能量,會隨溫度的上升而增大增高到一定程度反而會降低材料的發(fā)光效率,即溫度猝滅。空穴轉(zhuǎn)移模型
圖 1-2 理想發(fā)光體的能帶模型(祁康成,2012)止激發(fā)后對應某一時刻的發(fā)光中心總數(shù)為V+,空穴數(shù)為n+,陷阱數(shù)為n ,導帶中存在N 個電子,電子與發(fā)光中心的復合概率為A率為 A ,陷阱釋放電子的概率為 P ,則電子和空穴數(shù)變化的方程如() dn /dt= Pn+ANv n++dn/dt= ANn0()+ dN/dt= ANn+Pn ANv n0性的條件可得:+ n= N+n
圖 1-3 能級結(jié)構(gòu)(王麗輝,1998)復合發(fā)光,當發(fā)光材料被激發(fā)后,電子進入導帶,有一發(fā)光,另一部分則在擴散或漂移過程中被陷阱俘獲,落入陷阱后由于空間距離太大,不能直接與空穴復合。它通過發(fā)光中心復合發(fā)光,期間可能發(fā)生多次俘獲現(xiàn)象。與后于激發(fā),甚至會持續(xù)很長時間,這就形成了余輝現(xiàn)象陷阱密切相關(Dorenbos, 2005)。型中,只能幫助人們了解該材料的簡單的能量傳輸過原因及具體分布,和材料中輔助激活劑在發(fā)光過程中解釋。
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