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電阻率成像技術(shù)在不良地質(zhì)探測中的應(yīng)用研究

發(fā)布時間:2024-09-18 09:42
   針對城市地下勘察孔位難以布置、孔數(shù)無法密布涵蓋全部,對地下不良、空洞、松散等地質(zhì)條件難以判定等問題展開研究,提出采用電阻率成像探測法對地下不良土體進(jìn)行測探,以實際工程為例,論述該方法的探測原理,對探測結(jié)果進(jìn)行技術(shù)分析,提出解決方案。

【文章頁數(shù)】:3 頁

【文章目錄】:
1 工程概況
2 電阻率成像探測不良地質(zhì)分析
    2.1 電阻率成像探測技術(shù)
    2.2 不良地質(zhì)探測分析
3 不良土體處置
4 結(jié)語



本文編號:4005948

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