發(fā)布時(shí)間：2020-12-06 17:44

　　從計(jì)算機(jī)誕生之日起,可靠性問題就是計(jì)算機(jī)研究領(lǐng)域最需要關(guān)注的幾個(gè)問題之一。雖然現(xiàn)代計(jì)算機(jī)的可靠性已經(jīng)得到了很大程度的提高,但是隨著計(jì)算機(jī)制造工藝的日趨復(fù)雜和應(yīng)用領(lǐng)域的不斷拓展,計(jì)算機(jī)可靠性仍然面臨很多新的挑戰(zhàn)。軟錯(cuò)誤是半導(dǎo)體電路中的一種瞬態(tài)故障現(xiàn)象,通常是由外部環(huán)境中的高能粒子輻照和電壓擾動(dòng)、電磁干擾等電磁噪聲誘發(fā)。宇宙射線輻射所導(dǎo)致的單粒子翻轉(zhuǎn)等軟錯(cuò)誤一直是影響航天計(jì)算機(jī)可靠性的重要原因。而隨著集成電路制造工藝的持續(xù)進(jìn)步,現(xiàn)代處理器的性能在大幅度提高的同時(shí),對(duì)軟錯(cuò)誤也越來越敏感。繼性能和功耗問題之后,軟錯(cuò)誤導(dǎo)致的計(jì)算可信性已成為一個(gè)日益嚴(yán)峻的課題。其中,由于寄存器訪問頻繁卻未能被良好保護(hù),發(fā)生于寄存器中的軟錯(cuò)誤成為影響系統(tǒng)可靠性的最關(guān)鍵因素之一。與硬件容錯(cuò)相比,針對(duì)軟錯(cuò)誤的軟件容錯(cuò)技術(shù)由于在實(shí)現(xiàn)成本和靈活性等方面的優(yōu)勢(shì)而備受關(guān)注。本文在程序匯編代碼的基礎(chǔ)上,從程序可靠性的角度研究了面向寄存器軟錯(cuò)誤問題的程序分析、錯(cuò)誤檢測(cè)和編譯優(yōu)化等技術(shù)。本文的主要工作分為以下五個(gè)方面:1.從所運(yùn)行程序角度就寄存器軟錯(cuò)誤對(duì)可靠性的影響進(jìn)行定量分析,是設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)高效容錯(cuò)算法的基礎(chǔ)�；�于程序匯編代碼,本文... 

【文章來源】：國(guó)防科技大學(xué)湖南省 211工程院校 985工程院校

【文章頁數(shù)】：146 頁

【學(xué)位級(jí)別】：博士

【部分圖文】：

范艾倫輻射帶

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]軟件實(shí)現(xiàn)的程序控制流校驗(yàn)方法研究進(jìn)展[J]. 李愛國(guó),洪炳镕,王司.  哈爾濱工業(yè)大學(xué)學(xué)報(bào). 2008(03)
[2]基于錯(cuò)誤傳播分析的軟件脆弱點(diǎn)識(shí)別方法研究[J]. 李愛國(guó),洪炳镕,王司.  計(jì)算機(jī)學(xué)報(bào). 2007(11)
[3]高效的部分冗余容錯(cuò)編譯：復(fù)制錯(cuò)誤流關(guān)鍵子圖[J]. 高瓏,王之元,楊學(xué)軍.  軟件學(xué)報(bào). 2007(09)
[4]錯(cuò)誤流模型:硬件故障的軟件傳播建模與分析[J]. 楊學(xué)軍,高瓏.  軟件學(xué)報(bào). 2007(04)
[5]處理器容錯(cuò)技術(shù)研究與展望[J]. 傅忠傳,陳紅松,崔剛,楊孝宗.  計(jì)算機(jī)研究與發(fā)展. 2007(01)
[6]高性能低功耗的容錯(cuò)編譯技術(shù):錯(cuò)誤流壓縮算法[J]. 高瓏,楊學(xué)軍.  軟件學(xué)報(bào). 2006(12)
[7]單粒子效應(yīng)對(duì)衛(wèi)星空間運(yùn)行可靠性影響[J]. 王長(zhǎng)河.  半導(dǎo)體情報(bào). 1998(01)

博士論文
[1]多核微處理器容軟錯(cuò)誤設(shè)計(jì)關(guān)鍵技術(shù)研究[D]. 龔銳.國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué) 2008



本文編號(hào)：2901778