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面向寄存器軟錯誤的容錯編譯技術(shù)研究

發(fā)布時間:2020-12-06 17:44
  從計算機(jī)誕生之日起,可靠性問題就是計算機(jī)研究領(lǐng)域最需要關(guān)注的幾個問題之一。雖然現(xiàn)代計算機(jī)的可靠性已經(jīng)得到了很大程度的提高,但是隨著計算機(jī)制造工藝的日趨復(fù)雜和應(yīng)用領(lǐng)域的不斷拓展,計算機(jī)可靠性仍然面臨很多新的挑戰(zhàn)。軟錯誤是半導(dǎo)體電路中的一種瞬態(tài)故障現(xiàn)象,通常是由外部環(huán)境中的高能粒子輻照和電壓擾動、電磁干擾等電磁噪聲誘發(fā)。宇宙射線輻射所導(dǎo)致的單粒子翻轉(zhuǎn)等軟錯誤一直是影響航天計算機(jī)可靠性的重要原因。而隨著集成電路制造工藝的持續(xù)進(jìn)步,現(xiàn)代處理器的性能在大幅度提高的同時,對軟錯誤也越來越敏感。繼性能和功耗問題之后,軟錯誤導(dǎo)致的計算可信性已成為一個日益嚴(yán)峻的課題。其中,由于寄存器訪問頻繁卻未能被良好保護(hù),發(fā)生于寄存器中的軟錯誤成為影響系統(tǒng)可靠性的最關(guān)鍵因素之一。與硬件容錯相比,針對軟錯誤的軟件容錯技術(shù)由于在實現(xiàn)成本和靈活性等方面的優(yōu)勢而備受關(guān)注。本文在程序匯編代碼的基礎(chǔ)上,從程序可靠性的角度研究了面向寄存器軟錯誤問題的程序分析、錯誤檢測和編譯優(yōu)化等技術(shù)。本文的主要工作分為以下五個方面:1.從所運行程序角度就寄存器軟錯誤對可靠性的影響進(jìn)行定量分析,是設(shè)計和實現(xiàn)高效容錯算法的基礎(chǔ)。基于程序匯編代碼,本文... 

【文章來源】:國防科技大學(xué)湖南省 211工程院校 985工程院校

【文章頁數(shù)】:146 頁

【學(xué)位級別】:博士

【部分圖文】:

面向寄存器軟錯誤的容錯編譯技術(shù)研究


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【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]軟件實現(xiàn)的程序控制流校驗方法研究進(jìn)展[J]. 李愛國,洪炳镕,王司.  哈爾濱工業(yè)大學(xué)學(xué)報. 2008(03)
[2]基于錯誤傳播分析的軟件脆弱點識別方法研究[J]. 李愛國,洪炳镕,王司.  計算機(jī)學(xué)報. 2007(11)
[3]高效的部分冗余容錯編譯:復(fù)制錯誤流關(guān)鍵子圖[J]. 高瓏,王之元,楊學(xué)軍.  軟件學(xué)報. 2007(09)
[4]錯誤流模型:硬件故障的軟件傳播建模與分析[J]. 楊學(xué)軍,高瓏.  軟件學(xué)報. 2007(04)
[5]處理器容錯技術(shù)研究與展望[J]. 傅忠傳,陳紅松,崔剛,楊孝宗.  計算機(jī)研究與發(fā)展. 2007(01)
[6]高性能低功耗的容錯編譯技術(shù):錯誤流壓縮算法[J]. 高瓏,楊學(xué)軍.  軟件學(xué)報. 2006(12)
[7]單粒子效應(yīng)對衛(wèi)星空間運行可靠性影響[J]. 王長河.  半導(dǎo)體情報. 1998(01)

博士論文
[1]多核微處理器容軟錯誤設(shè)計關(guān)鍵技術(shù)研究[D]. 龔銳.國防科學(xué)技術(shù)大學(xué) 2008



本文編號:2901778

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