蛭石類(lèi)芬頓處理活性黃X-R染料的研究
【文章頁(yè)數(shù)】:71 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【部分圖文】:
圖3-1粉碎蛭石粒徑分布圖??Fig.?3-1?Particle?size?of?polishied?vermiculite??
分別粉碎1?min、5?min、10?min、20?min、30?min,將粉碎過(guò)后的輕石裝到??密封袋中備用。再取約0.8?g的蛭石粉體放入智能型濕法激光粒度儀中進(jìn)行測(cè)試分析。??最終得到不同粉碎時(shí)間下蛭石的中位徑以及平均粒徑。分析結(jié)果如表3-2和圖3-1所??示:??表3-2....
圖3-2粉碎不同時(shí)間下蛭石的掃描電鏡圖譜??Fig.?3-2?SEM?images?of?vermiculite?with?different?polishing?time:?(a)?without?polishing,?(b)?1?min,?(c)??
?電鏡尋找所要分析的樣品編號(hào),對(duì)準(zhǔn)要分析的樣品位置進(jìn)行倍數(shù)的放大和焦距的調(diào)??整。最終分析賠石的表面形貌結(jié)果如圖3-2所本:??‘一載r?:.'舞^??(a未粉5卒)?(b粉碎1?min?)??I??M?二?f???’?.….??(c?粉碎?10?min)?(d?粉碎?20?mi....
圖3-3粉碎蛭石的X射線(xiàn)衍射圖??Fig.?3-3?X-ray?diffraction?pattern?of?vermiculite?polished?for?ten?minutes??
D/MAX-IIIA衍射光譜儀對(duì)蛭石樣品進(jìn)行X射線(xiàn)(XRD)分析,試驗(yàn)條件:輻射源為Cu??Ka(X=0.154nm),掃描速度是5°/min,管電壓40kV,管電流40?mA,掃描范圍為??5-80°。其結(jié)果如圖3-3所示:??1鈉長(zhǎng)石??6?2鐵云母??2?3鎂劈鈦礦??^?....
圖3-4蛭石粉碎時(shí)間與降解率的關(guān)系??Fig.?3-4?Effect?of?polishing?time?of?vermiculite?on?degradation?rate??
圖3-4蛭石粉碎時(shí)間與降解率的關(guān)系??Fig.?3-4?Effect?of?polishing?time?of?vermiculite?on?degradation?rate??由圖3-4可知,大顆粒蛭石不利于類(lèi)芬頓高級(jí)氧化反應(yīng)過(guò)程,隨著粉體的平均粒??徑變小,對(duì)活性黃X-R的降....
本文編號(hào):4003879
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