發(fā)布時(shí)間：2024-12-19 00:02

　　隨著集成電路工藝水平與設(shè)計(jì)能力的不斷提升,SoC設(shè)計(jì)復(fù)雜度也不斷提高,為保證正常流片,芯片驗(yàn)證的工作量大幅增加,IC驗(yàn)證已成為影響芯片研發(fā)效率的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一。但業(yè)界通用的數(shù)字IC驗(yàn)證環(huán)境搭建策略耗時(shí)較長(zhǎng),同時(shí)驗(yàn)證環(huán)境的可復(fù)用性較差,測(cè)試用例的開(kāi)發(fā)也存在缺乏規(guī)范、可讀性差、復(fù)用性差的通病,這些問(wèn)題都嚴(yán)重制約了IC驗(yàn)證的效率。為解決IC驗(yàn)證面臨的低效問(wèn)題,本文的研究目標(biāo)是開(kāi)發(fā)一款自動(dòng)化生成驗(yàn)證環(huán)境的工具,以實(shí)現(xiàn)迅速搭建可復(fù)用性高的驗(yàn)證環(huán)境,并設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔易用的標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試用例,以提高測(cè)試用例的開(kāi)發(fā)和復(fù)用效率。本文自動(dòng)化生成驗(yàn)證環(huán)境的工具主要由標(biāo)準(zhǔn)化驗(yàn)證環(huán)境系統(tǒng)和代碼生成系統(tǒng)構(gòu)成。標(biāo)準(zhǔn)化驗(yàn)證環(huán)境系統(tǒng)基于UVM和常用接口VIP,設(shè)計(jì)出可配置化的分層網(wǎng)絡(luò)式驗(yàn)證環(huán)境。代碼生成系統(tǒng)基于Mako模板和Python腳本,設(shè)計(jì)出簡(jiǎn)潔易用的驗(yàn)證環(huán)境代碼自動(dòng)生成器。標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試用例的設(shè)計(jì)基于驗(yàn)證場(chǎng)景中的常用操作,定義了一系列時(shí)鐘、復(fù)位、寄存器、IOC和總線(xiàn)操作的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試指令集。本文最終實(shí)現(xiàn)了對(duì)于任意給定待驗(yàn)設(shè)計(jì),基于代碼生成系統(tǒng)可以迅速搭建與給定待驗(yàn)設(shè)計(jì)高度匹配的驗(yàn)證環(huán)境,另外采用標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試指令集可以迅速編寫(xiě)符合不同驗(yàn)...

【文章頁(yè)數(shù)】：94 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

圖3.16IOC信號(hào)握手類(lèi)型示例

PIN_LEVELHANDSHAKE圖3.16IOC信號(hào)握手類(lèi)型示例第一種，SET_WAIT，當(dāng)按照SET_WAIT類(lèi)型配置IOC[0]和IOC[1]時(shí),測(cè)試用例起config_set....

圖3.18SystemVerilog方法導(dǎo)出過(guò)程代碼示例

如果待驗(yàn)設(shè)計(jì)或驗(yàn)證環(huán)境較大，這兩個(gè)操作甚至?xí)ㄙM(fèi)半個(gè)小時(shí)乃至更久的時(shí)間。但是對(duì)于基于C語(yǔ)言編寫(xiě)的測(cè)試用例，則只需要在使用時(shí)，使用GCC編譯器將C測(cè)試用例編譯為二進(jìn)制文件即可，這也意味著完全無(wú)需冗長(zhǎng)的重編譯和elaboration過(guò)程，便可對(duì)新的驗(yàn)證場(chǎng)景進(jìn)行仿真。3.5....

圖3.19C方法導(dǎo)入過(guò)程代碼示例

圖3.19C方法導(dǎo)入過(guò)程代碼示例然后，在基于C語(yǔ)言的測(cè)試用例中組合這些封裝好的C測(cè)試方法，即可如Syilog驗(yàn)證語(yǔ)言一樣構(gòu)建驗(yàn)證場(chǎng)景。對(duì)于基于C語(yǔ)言的測(cè)試場(chǎng)景，這些場(chǎng)景需一個(gè)指定的線(xiàn)程中，常在SystemVerilog的測(cè)試用例中，定義好相應(yīng)的線(xiàn)程入行....

圖5.2自測(cè)代碼示例

第五章系統(tǒng)的測(cè)試與應(yīng)用效果分析上述測(cè)試用例中，每一個(gè)測(cè)試用例都用于保證一組標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試指令的準(zhǔn)確驅(qū)動(dòng)了保證在整個(gè)開(kāi)發(fā)過(guò)程中，每次增添或修改標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試環(huán)境中的方法，都不影響功能，采用了回歸測(cè)試的開(kāi)發(fā)模式。即每一次標(biāo)準(zhǔn)化驗(yàn)證環(huán)境代碼有版本更新時(shí)使用代碼生成器系統(tǒng)，重新生成一版驗(yàn)證環(huán)境....

本文編號(hào)：4017335