S吸附對SiC表面不同重構(gòu)結(jié)構(gòu)的影響
[Abstract]:The occurrence of SiC surface reconstruction will increase the density of states on the surface and greatly affect the performance of SiC power devices. In this paper, the (3 ~ (1 / 2) 脳 3 ~ (1 / 2) R30 擄and (3 脳 3) reconstructed structures of 4H/6H-SiC (0001) -Si and (3 脳 2) and (2 脳 1) reconstructed structures of 3C-SiC (0001) -Si are investigated by the adsorption of S atoms, respectively. The results show that the adsorbed S atom can open the surface reconstruction bond. The best adsorption rates of (3 ~ (1 / 2) 脳 3 ~ (1 / 2) R ~ (30 擄) and (3 脳 3) R ~ (3) reconstruction are that the adsorption of (3 ~ (1 / 2) 脳 3 ~ (1 / 2) 脳 3 ~ (1 / 2) R ~ (30) 擄) on (3 脳 2) reconstructed surface is stronger than that on (3 ~ (1) 脳 3 ~ (1) 脳 3 ~ (1) R _ (30) 擄. (3 脳 2) the reconstructed surface adsorbs at H _ 3 under 1/6ML, and (2 脳 1) at B site at 1/2ML. The adsorption energy of 3C-SiC on the surface of 4H/6H-SiC system is lower than that on the surface of 4H/6H-SiC system. More stable, the reconstruction structure restoration is more ideal.
【作者單位】: 西安理工大學(xué)電子工程系;
【基金】:國家自然科學(xué)基金(51207128,51677149) 特色研究項(xiàng)目(2016TS021)
【分類號】:TN304.24
【參考文獻(xiàn)】
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【共引文獻(xiàn)】
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【二級參考文獻(xiàn)】
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【相似文獻(xiàn)】
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,本文編號:2254853
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