發(fā)布時(shí)間：2018-09-07 21:40

【摘要】：隨著集成電路工藝進(jìn)入納米時(shí)代,芯片正面臨著軟錯誤的威脅.除了軟錯誤在數(shù)量上的威脅外,處理器還面臨著由于工藝變動性和電壓、溫度、位置等工作環(huán)境變動而導(dǎo)致的錯誤率變動性的威脅,即系統(tǒng)的錯誤率不會一直穩(wěn)定而是隨著時(shí)間發(fā)生變化.檢查點(diǎn)是系統(tǒng)容錯的主要機(jī)制,它的開銷和檢查點(diǎn)的間隔密切相關(guān),目前檢查點(diǎn)間隔的確定大多是基于恒定錯誤率的.但是在軟錯誤變動的情況下,自適應(yīng)檢查點(diǎn)的方法比固定方法更能夠顯著降低檢查點(diǎn)開銷,它通過預(yù)測系統(tǒng)的錯誤率來確保系統(tǒng)的檢查點(diǎn)間隔始終與最優(yōu)狀態(tài)接近.但是自適應(yīng)檢查點(diǎn)所能獲得的性能改善與錯誤率變動的具體程度相關(guān).因此本文研究軟錯誤率變動的形式和幅度如何影響檢查點(diǎn)的開銷.該文開展了如下研究:基于溫度、電壓、位置等因素對軟錯誤影響的原理,建立了一個(gè)包含變動幅度、持續(xù)時(shí)間等參數(shù)的錯誤率變動的模型;基于錯誤率變動模型,模擬了在理想情況下自適應(yīng)檢查點(diǎn)機(jī)制能夠獲得的性能改善;提出了一種基于錯誤歷史預(yù)測錯誤率的方法,從而驗(yàn)證了在實(shí)際情況下自適應(yīng)檢查點(diǎn)能夠達(dá)到的效果.實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,變動的幅度在3倍以上且持續(xù)時(shí)間在12.5%以上時(shí),該文方法就能獲得實(shí)際上的性能改善.
[Abstract]:With the IC technology entering the nanometer age, the chip is facing the threat of soft error. In addition to the quantitative threat of soft errors, processors also face the threat of varying error rates due to process variability and changes in working conditions such as voltage, temperature, location, etc. That is, the error rate of the system does not remain constant but changes over time. Checkpoint is the main fault-tolerant mechanism in the system, and its overhead is closely related to the interval between checkpoints. At present, the determination of checkpoint interval is mostly based on constant error rate. However, in the case of soft error variation, the adaptive checkpoint method can significantly reduce the checkpoint overhead than the fixed method. It can predict the error rate of the system to ensure that the checkpoint interval of the system is always close to the optimal state. However, the performance improvement achieved by adaptive checkpoint is related to the specific degree of error rate variation. Therefore, this paper studies how the change of soft error rate affects the cost of checkpoint. Based on the influence of temperature, voltage, position and other factors on soft error, a model of error rate variation including amplitude and duration is established, and the error rate model is used to analyze the influence of temperature, voltage and position on soft error. The performance improvement of adaptive checkpoint mechanism under ideal condition is simulated, and an error rate prediction method based on error history is proposed, which verifies the effect of adaptive checkpoint in practice. The experimental results show that when the range of variation is more than 3 times and the duration is more than 12.5%, the performance of this method can be improved in practice.
【作者單位】： 國防科學(xué)技術(shù)大學(xué)計(jì)算機(jī)學(xué)院;
【基金】：國家自然科學(xué)基金(61402504,61033008,61272145,61103080) 國家“八六三”高技術(shù)研究發(fā)展計(jì)劃項(xiàng)目子課題(2012AA012706) 高等學(xué)校博士學(xué)科點(diǎn)專項(xiàng)科研基金優(yōu)先發(fā)展領(lǐng)域課題(20124307130004)資助~~
【分類號】：TN407

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本文編號：2229496