發(fā)布時(shí)間：2023-10-06 10:11

　　方塊電阻是用來評(píng)價(jià)半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的關(guān)鍵參數(shù),通常采用接觸式的四探針方法測(cè)量,對(duì)樣品表面具有破壞性,不利于半導(dǎo)體晶片的質(zhì)量控制。而傳統(tǒng)的非接觸式渦流方塊電阻測(cè)量法會(huì)引起被測(cè)物體溫度升高,影響了測(cè)量的準(zhǔn)確性。相比較,非接觸式的脈沖渦流方塊電阻測(cè)量法可提高測(cè)量精度。為此,本文采用非接觸式的脈沖檢測(cè)原理,設(shè)計(jì)了一款基于ARM內(nèi)核的sTM32芯片便攜式的脈沖渦流方塊電阻檢測(cè)儀器,涉及測(cè)量探頭、探頭電路、單片機(jī)處理電路、顯示電路和電源電路等的硬件電路設(shè)計(jì),以及相配套的處理軟件設(shè)計(jì)。主要研究工作及成果如下:1.從脈沖渦流檢測(cè)理論出發(fā),分析了脈沖渦流檢測(cè)原理。通過PsPICE仿真,確定了脈沖渦流檢測(cè)電路的電路參數(shù),并得出了脈沖渦流檢測(cè)方塊電阻的電容電壓與方塊電阻的關(guān)系曲線。2.通過有限元方法對(duì)脈沖渦流法檢測(cè)探頭參數(shù)進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì)。仿真分析了線圈匝數(shù)、線圈內(nèi)外徑、測(cè)量距離對(duì)檢測(cè)電壓、磁場(chǎng)密度、磁場(chǎng)強(qiáng)度的影響。最終得到優(yōu)化后的匝數(shù)為40匝,優(yōu)化后的探頭內(nèi)外徑分別2.11rm和_4。⒍m,測(cè)量距離為1Ⅱm。3.設(shè)計(jì)了一套適用于脈沖渦流檢測(cè)便攜式儀,儀器由測(cè)量探頭、探頭電路、單片機(jī)處理...

【文章頁數(shù)】：68 頁

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
abstract
1 緒論
    1.1 研究的背景和意義
    1.2 國(guó)內(nèi)外研究進(jìn)展
        1.2.1 國(guó)外研究現(xiàn)狀
        1.2.2 國(guó)內(nèi)研究現(xiàn)狀
    1.3 本論文主要研究?jī)?nèi)容及結(jié)構(gòu)安排
2 脈沖渦流測(cè)試系統(tǒng)基本原理
    2.1 脈沖渦流檢測(cè)基本原理
        2.1.1 渦流檢測(cè)基本原理
        2.1.2 脈沖渦流檢測(cè)原理
        2.1.3 脈沖渦流檢測(cè)法的電路分析
    2.2 本章小結(jié)
3 脈沖渦流傳感器探頭線圈的優(yōu)化設(shè)計(jì)
    3.1 探頭有限元建模與分析
        3.1.1 方塊電阻檢測(cè)的有限元模型
        3.1.2 有限元分析模型確定
        3.1.3 外電路的搭建
    3.2 探頭部分參數(shù)優(yōu)化設(shè)計(jì)
        3.2.1 線圈匝數(shù)的確定
        3.2.2 線圈內(nèi)徑的確定
        3.2.3 線圈外徑的確定
        3.2.4 測(cè)量距離的確定
    3.3 本章小結(jié)
4 系統(tǒng)硬件部分設(shè)計(jì)
    4.1 硬件系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)
    4.2 探頭部分電路
        4.2.1 探頭部分電路設(shè)計(jì)
        4.2.2 驅(qū)動(dòng)部分電路設(shè)計(jì)
    4.3 處理部分各模塊設(shè)計(jì)
        4.3.1 單片機(jī)最小系統(tǒng)
        4.3.2 AD轉(zhuǎn)換電路的設(shè)計(jì)
        4.3.3 顯示部分電路
        4.3.4 電源管理電路
        4.3.5 外部存儲(chǔ)芯片
        4.3.6 BOOT電路
    4.4 本章小結(jié)
5 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)
    5.1 系統(tǒng)軟件結(jié)構(gòu)
    5.2 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)方法
        5.2.1 脈沖方波信號(hào)的產(chǎn)生
        5.2.2 AD7609程序設(shè)計(jì)
        5.2.3 FLASH芯片程序設(shè)計(jì)
        5.2.4 OLED顯示模塊設(shè)計(jì)
        5.2.5 數(shù)字濾波算法的設(shè)計(jì)
    5.3 本章小結(jié)
6 測(cè)試儀的制作與測(cè)試
    6.1 測(cè)試儀的制作
        6.1.1 測(cè)試探頭部分的制作
        6.1.2 儀器主機(jī)的制作
    6.2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果的測(cè)量與分析
        6.2.1 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與實(shí)驗(yàn)誤差
        6.2.2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果的誤差分析
    6.3 本章小結(jié)
7 總結(jié)與展望
致謝
參考文獻(xiàn)
攻讀碩士學(xué)位期間主要研究成果



本文編號(hào)：3851652