發(fā)布時間：2024-06-08 06:35

　　利用X射線高穿透性的探測方式能夠對材料內部進行成像,因此X射線探測在安防安檢、工業(yè)探傷和醫(yī)療診斷等眾多領域得到了廣泛應用。使用直接探測成像的數(shù)字化平板探測器已經成為實現(xiàn)高空間分辨率X射線成像的首選技術手段。以MAPbX₃(MA=CH₃NH₃,X=Cl,Br,I)為代表的鹵素鈣鈦礦具有比商用非晶硒(α-Se)平板探測器更好的穩(wěn)定性、更高的靈敏度以及易低成本制備大面積器件等優(yōu)勢,極有希望代替α-Se成為下一代X射線直接探測材料。數(shù)字化探測的必要條件是對探測器所得信號進行模數(shù)轉換,以實現(xiàn)計算機識別。由于探測器對X射線的響應十分微弱(典型值為百皮安量級),因此在進行模數(shù)轉換之前,應使用前置放大電路來放大探測器的輸出信號,以確保放大之后的信號在隨后的傳輸過程中不會被噪聲淹沒,同時也滿足模數(shù)轉換對數(shù)據(jù)幅值大小的要求(典型值為毫伏量級)。本文對鈣鈦礦X射線探測器的前置放大電路進行研究,完成前置放大電路設計,實現(xiàn)對鈣鈦礦X射線探測器輸出信號的放大,使得探測所得電信號易于被后端電路接收并進行下一步數(shù)據(jù)處理。本文從X射線探測的基礎理論出發(fā),...

【文章頁數(shù)】：52 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

圖1-1X射線發(fā)生器示意圖

圖1-1X射線發(fā)生器示意圖波長范圍在0.001~10nm之間電磁波力學理論，單個X光子的能量可由E=hv，數(shù)值為6.62610-34Js，v為光子能量和其自身頻率成正比，而頻率和一般意味著越短的波長。由于X射線能呈正相關的關系，而電子撞擊靶材....

圖1-2電磁波譜示意圖

圖1-2電磁波譜示意圖X射線的特性主要有以下三個方面[1]：（1）物理特性。X射線擁有對物體極強的穿透力，而且由于部分X射線在穿透物體的過程中會被吸收，因而使X射線產生衰減。類似于可見光，作為一種電磁波的X射線同樣具有反射、衍射和干涉等光學特性現(xiàn)象。（2）化學特....

圖1-3X射線圖像板（IP板）成像系統(tǒng)（引用自文獻[20]

圖1-3X射線圖像板（IP板）成像系統(tǒng)（引用自文獻[20]）相比增強屏而言，圖像板對X射線的吸收機理與其相似，不同之處在于圖像板實現(xiàn)了探測信號的數(shù)字化輸出，在成像性能方面，具有更大的動態(tài)范圍、更低的檢測極限。然而，先潛影再顯影的工作模式決定了圖像板系統(tǒng)不能進行實時成像....

圖1-4數(shù)字化X射線探測系統(tǒng)示意圖

像中，閃爍體的熒光信號會互相干擾，降低成像的空間分辨率于偏置電壓的作用，電荷信號在傳輸過程中的擴散很小，因而高的空間分辨率。然而，α-Se也存在著十分明顯的本質缺點：由于較小的原子序數(shù)（34）而變得很弱；靈敏度低（<300μCG500nGy/s）；所需的偏置電場很大（10....

本文編號：3991603