發(fā)布時(shí)間：2024-06-08 02:24

　　符合方法建立在4πβ計(jì)數(shù)法和β-γ符合法的基礎(chǔ)上,是由P.J.Campion等人于五、六十年代發(fā)展起來(lái)的一種絕對(duì)測(cè)量方法。這種方法最初主要用于測(cè)量如⁶⁰Co等簡(jiǎn)單β-γ衰變核素的活度測(cè)量,后來(lái)又由Campion、Bearg等人在4πβ-γ符合測(cè)量裝置上發(fā)展了效率外推法和效率示蹤技術(shù),可分別用于復(fù)雜β-γ衰變和純?chǔ)滤プ兒怂氐幕疃葴y(cè)量。國(guó)際上,各國(guó)的活度計(jì)量基準(zhǔn)和其它一些主要的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室的活度計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)均采用這種測(cè)量方法。符合方法是目前活度計(jì)量領(lǐng)域測(cè)量準(zhǔn)確度最高的方法之一,但實(shí)現(xiàn)該方法涉及到復(fù)雜的制源與修正等多個(gè)方面。本文通過(guò)改進(jìn)分散劑噴涂裝置,在簡(jiǎn)化薄膜基材制備的同時(shí)保障了對(duì)薄膜源的較高的探測(cè)效率。由于4πβ-γ符合裝置在絕對(duì)測(cè)量時(shí)需要將樣品制備成薄膜源,薄膜源表觀探測(cè)效率越高外推就越可靠。源的自吸收和襯托膜上的電荷堆積是影響探測(cè)效率主要原因,因此制源關(guān)鍵要求就是源的均勻性和襯托膜的導(dǎo)電性。本文改進(jìn)了原有裝置,建立了操作簡(jiǎn)便、安全性高及噴涂效率高的噴涂裝置,并結(jié)合真空鍍膜技術(shù),成功制取了高探測(cè)效率的薄膜源。對(duì)于⁶⁰Co源的β探測(cè)效率達(dá)到93%...

【文章頁(yè)數(shù)】：75 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
Abstract
1 引言
    1.1 研究背景
    1.2 國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
        1.2.1 數(shù)字符合國(guó)外研究現(xiàn)狀
        1.2.2 數(shù)字符合國(guó)內(nèi)研究現(xiàn)狀
    1.3 課題來(lái)源
    1.4 研究?jī)?nèi)容
2 符合法基本理論
    2.1 符合法原理
    2.2 數(shù)字符合計(jì)算處理過(guò)程和修正
        2.2.1 數(shù)字符合計(jì)算處理過(guò)程
        2.2.2 數(shù)據(jù)重建過(guò)程
        2.2.3 數(shù)字符合計(jì)算處理過(guò)程修正
3 數(shù)字符合基準(zhǔn)裝置及優(yōu)化
    3.1 數(shù)字符合基準(zhǔn)裝置
        3.1.1 探測(cè)器及NIM插件
        3.1.2 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
        3.1.3 符合計(jì)算軟件
    3.2 數(shù)字符合裝置優(yōu)化
        3.2.1 穩(wěn)壓電源
        3.2.2 氣路改造
        3.2.3 高氣壓正比計(jì)數(shù)器
4 4π薄膜源的制備
    4.1 薄膜源
    4.2 制備襯托膜
        4.2.1 膜材料
        4.2.2 膜溶液配制
        4.2.3 制膜
        4.2.4 導(dǎo)電膜的制備
    4.3 定量取樣
        4.3.1 定量稀釋
        4.3.2 定量取樣
    4.4 源的制備
        4.4.1 潤(rùn)濕劑法
        4.4.2 噴涂硅溶膠法
    4.5 源質(zhì)量的評(píng)定及其結(jié)果
5 實(shí)驗(yàn)測(cè)量及不確定度分析
    5.1 穩(wěn)定性測(cè)試
        5.1.1 電源電壓穩(wěn)定性測(cè)試
        5.1.2 氣壓穩(wěn)定性測(cè)試和計(jì)數(shù)穩(wěn)定性測(cè)試
    5.2 坪特性曲線測(cè)試
    5.3 測(cè)量時(shí)長(zhǎng)測(cè)試
    5.4 實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)備
        5.4.1 實(shí)驗(yàn)步驟
        5.4.2 注意事項(xiàng)
    5.5 ⁶⁰Co活度的測(cè)量
        5.5.1 ⁶⁰Co衰變特點(diǎn)及樣品準(zhǔn)備
        5.5.2 ⁶⁰Co測(cè)量
    5.6 ⁵⁴Mn活度的測(cè)量
        5.6.1 ⁵⁴Mn衰變特點(diǎn)及樣品準(zhǔn)備
        5.6.2 ⁵⁴Mn測(cè)量
    5.7 不確定度的評(píng)定
        5.7.1 計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)漲落的不確定度
        5.7.2 死時(shí)間修正引入的不確定度
        5.7.3 符合分辨時(shí)間引入的不確定度
        5.7.4 效率外推引入的不確定度
        5.7.5 源稱重引入的不確定度
        5.7.6 本底修正引入的不確定度
        5.7.7 半衰期修正引入的確定度
        5.7.8 合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度
        5.7.9 擴(kuò)展不確定度
        5.7.10 ⁶⁰Co和⁵⁴Mn測(cè)量結(jié)果不確定度
6 結(jié)論
    6.1 主要成果與結(jié)論
    6.2 問(wèn)題與展望
致謝
參考文獻(xiàn)



本文編號(hào)：3991315