發(fā)布時(shí)間：2020-12-25 08:09

　　本文的工作主要圍繞J-TEXT托卡馬克裝置上微波診斷反射系統(tǒng)的升級(jí)展開(kāi)。主要包括兩方面的工作:從硬件和軟件兩方面優(yōu)化改進(jìn)了用于密度剖面觀測(cè)的密度剖面反射儀,搭建了一套用于觀測(cè)等離子體極向旋轉(zhuǎn)、密度擾動(dòng)、徑向電場(chǎng)等參數(shù)的掃頻多普勒反射儀。新的密度剖面密度剖面反射儀由三道組成:Q波段（33⁵0GHz）的尋常模（O模）和非尋常模（X模）,V波段（50⁷5GHz）的X模。在J-TEXT常規(guī)放電條件下(縱場(chǎng)B_T=1.8T,等離子體中心密度n_e=3×10¹⁹m^-3),該診斷可測(cè)范圍覆蓋低場(chǎng)測(cè)等離子體邊界到中心,掃描周期為20?s,使用定向耦合器實(shí)現(xiàn)單發(fā)單收。本文首先在原有壓控振蕩源（VCO）靜態(tài)標(biāo)定基礎(chǔ)上,對(duì)其進(jìn)行了動(dòng)態(tài)標(biāo)定,修正了波導(dǎo)色散帶來(lái)的影響,分析了縱場(chǎng)的環(huán)向不均勻的影響。其次,在系統(tǒng)結(jié)構(gòu)上將零差改為了單邊帶調(diào)制的超外差結(jié)構(gòu),采用了I/Q鑒相,提高了信號(hào)質(zhì)量。軟件上完成了數(shù)據(jù)處理程序的設(shè)計(jì)和編寫(xiě),先分析了不同濾波方式對(duì)相位的影響,考慮到密度剖面反射儀對(duì)相位的敏... 

【文章來(lái)源】：華中科技大學(xué)湖北省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁(yè)數(shù)】：78 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

J-TEXT托卡馬克裝置

圖 1.2 世界上首個(gè)用于等離子體密度觀測(cè)的調(diào)頻反射儀 裝置在 1985 年搭建了一套固定頻率的反射儀系統(tǒng)[15]，反射儀[16]，2005 年又建設(shè)了一套 X 模掃頻 50~75GHz 反分布的精確計(jì)算，搭建不同波段的反射儀[18]。圖 1.3 JET 上的 O 模反射儀

圖 1.2 世界上首個(gè)用于等離子體密度觀測(cè)的調(diào)頻反射儀的 JET 裝置在 1985 年搭建了一套固定頻率的反射儀系統(tǒng)[15]，1992 年2 道 O 模反射儀[16]，2005 年又建設(shè)了一套 X 模掃頻 50~75GHz 反射儀[17]展密度分布的精確計(jì)算，搭建不同波段的反射儀[18]。


本文編號(hào)：2937267