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原子分辨率短程化學力提取與勢能譜解算

發(fā)布時間:2024-11-12 21:07
   超高真空非接觸式原子力顯微鏡近年來飛速發(fā)展,在表面物理探測領域有著廣泛的應用。其中短程化學力的定量測量對剖析物質特性及反應機理方面有著重要意義,是實現顯微鏡原子分辨率的關鍵要素。為精確測量短程化學力,基于球錐探針模型從理論上推導了頻率偏移(Δf)與原子間總作用力(Fts)的轉換關系,并分析作用力成分推導短程力求解算法。實驗中,頻率偏移譜由漢明窗濾波后根據Δf-Fts方程解算得到總力譜(Fts-z),對其擬合并剔除長程力以精確求解短程力譜(Fshort-z),并積分得到勢能譜。本文以Si(111)-(7×7)表面為實驗研究對象驗證算法可行性。

【文章頁數】:6 頁

【文章目錄】:
1 短程化學力提取原理
    1.1 原子間作用力解算
    1.2 短程化學力解算
        (1)原子間作用力組成
        (2)短程化學力提取
2 實驗
3 結果與討論
4 總結



本文編號:4011959

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