發(fā)布時間：2024-05-27 20:31

　　表面微觀形貌是評價表面質(zhì)量、表征表面性能時需要考慮的重要因素。半個多世紀(jì)以來,測量技術(shù)和儀器制造水平不斷提高,分形、小波、motif理論出現(xiàn)在表面形貌的研究領(lǐng)域,使得表面粗糙度的研究成為工程表面領(lǐng)域的研究熱點,同時也為工業(yè)制造的精密化以及微機(jī)械制造領(lǐng)域中高精密表面評定奠定了基礎(chǔ)。有很多相對成熟的研究結(jié)果被逐步制定為國際標(biāo)準(zhǔn)或各國家的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。 本文以三維motif方法為主要研究內(nèi)容,對表面微觀形貌及其特征和表面性能等方面做了研究分析。三維motif方法是在二維motif方法的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的,繼承了二維方法不用濾波、不受取樣長度限制的優(yōu)點并能全面反映表面形貌特征。本文主要工作包含以下幾方面: (1)敘述了粗糙度評定發(fā)展的歷史,幾種主要測量方法的優(yōu)點和不足。用原子力顯微鏡作為測量工具,獲取表面形貌數(shù)據(jù)。敘述了分層數(shù)據(jù)文件HDF結(jié)構(gòu)、使用方法和廣闊的應(yīng)用前景。 (2)將motif方法的研究對象從截面輪廓擴(kuò)展至三維表面時,首先應(yīng)討論的就是離散柵格數(shù)據(jù)表示連續(xù)曲面時存在的拓?fù)涿�盾問題。本文采用將motif區(qū)域和分割線分別定義鄰接方式的方法解決這一矛盾,并在此分別定義鄰接方式的基礎(chǔ)上用鄰域分析的...

【文章頁數(shù)】：74 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

圖3一ZA「M測量系統(tǒng)

本文實驗和后續(xù)分析所用的三維形貌數(shù)據(jù)均是由原子力顯微鏡掃描獲得。采用美國Veeco(MT)公司生產(chǎn)的原子力顯微鏡，規(guī)格型號AutoprobeCPResearchsysteln，見圖3一2。選用粗糙度樣塊為手研加工方式，顯微鏡掃描平臺可容納樣塊大小為10xlomm。選擇輕敲工....

圖3一3元數(shù)據(jù)信息Figure3一3Meta一Data樣塊的掃描數(shù)據(jù)選取為256x256的數(shù)據(jù)點陣，其中測量單位(units)是納米，

本文實驗和后續(xù)分析所用的三維形貌數(shù)據(jù)均是由原子力顯微鏡掃描獲得。采用美國Veeco(MT)公司生產(chǎn)的原子力顯微鏡，規(guī)格型號AutoprobeCPResearchsysteln，見圖3一2。選用粗糙度樣塊為手研加工方式，顯微鏡掃描平臺可容納樣塊大小為10xlomm。選擇輕敲工....

圖34樣塊001Figure3碑S田爪P】e001

第三章實驗測量及數(shù)據(jù)采集、預(yù)處理子，值為1.3229xlo一，將原形貌數(shù)據(jù)整數(shù)整數(shù)化后是132，這樣就便于計算機(jī)的存中分析的可視化，有代表高度值的元素點，然而整數(shù)化后的數(shù)據(jù)矩陣含有負(fù)值，遠(yuǎn)遠(yuǎn)imshow()函數(shù)時加入矩陣元素最大值命令是加show(Data，[lowhish])，....

圖5一6樣塊001和疊加了分水線的分割圖

表面粗糙度的三維motif評定方法研究可知這樣的p點最多只有四類，通常k的值會是1(一個相鄰區(qū)域)或2(有兩個相鄰區(qū)域)，對于k=3、4的情形見圖5一5:軍軍，Orrr000booo才才O才才礦}}才or0才b才0才0nU(a)k=4(b)k=3圖5一5令仔接區(qū)域個數(shù)為....

本文編號：3983064