Win32平臺(tái)下基于IA服務(wù)器主板工程化測(cè)試方法的研究
發(fā)布時(shí)間:2021-01-17 14:48
本課題所研究的內(nèi)容為在32位Windows操作系統(tǒng)(Win32平臺(tái))下,結(jié)合IA架構(gòu)服務(wù)器的特點(diǎn),從工程化角度出發(fā),將其按硬件功能劃分成若干模塊,針對(duì)各模塊不同的特征,設(shè)計(jì)敏捷的測(cè)試方案,編寫(xiě)高效合理且用于批量生產(chǎn)的各種工程化測(cè)試用例,并借助自動(dòng)化工具完成測(cè)試軟件系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)。在深入分析通用IA架構(gòu)特征后,本文以某型號(hào)服務(wù)器產(chǎn)品為例,找到不使用硬件驅(qū)動(dòng)技術(shù)直接訪問(wèn)Win32內(nèi)核和硬件設(shè)備的辦法,并使用這種辦法完成某些模塊的測(cè)試組件開(kāi)發(fā)。這種技術(shù)的使用也是本文突破的一個(gè)技術(shù)難點(diǎn)。本文的最后部分研究了測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試覆蓋率和測(cè)試效果。分析本測(cè)試系統(tǒng)的需求覆蓋率,并且設(shè)計(jì)了從新產(chǎn)品導(dǎo)入到批量生產(chǎn)等三個(gè)環(huán)節(jié)的實(shí)驗(yàn),從事實(shí)上對(duì)測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)果進(jìn)行分析,得出其可工程化、可產(chǎn)品化的結(jié)論。
【文章來(lái)源】:西安電子科技大學(xué)陜西省 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁(yè)數(shù)】:70 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【部分圖文】:
測(cè)試軟件系統(tǒng)與操作系統(tǒng)關(guān)系
部1000臺(tái)服務(wù)器系統(tǒng)在規(guī)定時(shí)間內(nèi)完成全部測(cè)試項(xiàng)目,其中有2臺(tái)未能通過(guò)本套測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試。通過(guò)分析和確認(rèn),定位此2臺(tái)系統(tǒng)的主機(jī)板失效為生產(chǎn)過(guò)程中的工藝失效。下圖4.2為來(lái)自代工單位的質(zhì)量數(shù)據(jù)圖表。
本文編號(hào):2983073
【文章來(lái)源】:西安電子科技大學(xué)陜西省 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁(yè)數(shù)】:70 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【部分圖文】:
測(cè)試軟件系統(tǒng)與操作系統(tǒng)關(guān)系
部1000臺(tái)服務(wù)器系統(tǒng)在規(guī)定時(shí)間內(nèi)完成全部測(cè)試項(xiàng)目,其中有2臺(tái)未能通過(guò)本套測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試。通過(guò)分析和確認(rèn),定位此2臺(tái)系統(tǒng)的主機(jī)板失效為生產(chǎn)過(guò)程中的工藝失效。下圖4.2為來(lái)自代工單位的質(zhì)量數(shù)據(jù)圖表。
本文編號(hào):2983073
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