發(fā)布時(shí)間：2020-12-10 02:06

　　隨著微波集成電路的高速發(fā)展,無論是器件、電路、天線、還是封裝,在建模方面對(duì)精準(zhǔn)度,依賴性,高效性,普遍性的要求日益增長。特別是當(dāng)前電磁結(jié)構(gòu)的高密度集成趨勢(shì),大到復(fù)合材料的航空航天器件,小到納米材料的電磁傳感器的設(shè)計(jì)都需要發(fā)展各種復(fù)雜的多尺度及多物理的電磁建模仿真算法。物理測(cè)量中由于饋線接口等一系列的原因會(huì)導(dǎo)致測(cè)量的參數(shù)不精確,所以會(huì)采用去嵌技術(shù)校準(zhǔn)去除饋線或轉(zhuǎn)接頭的影響。與此類似,傳統(tǒng)計(jì)算電磁算法仿真提取電路參數(shù)時(shí)由于施加激勵(lì)的原因往往會(huì)存在端口不連續(xù)性,因而導(dǎo)致精確參數(shù)的計(jì)算會(huì)因此受到較大的影響無法精確的提取電路的特征參量及寄生參數(shù)。因此,計(jì)算電磁方法結(jié)合校準(zhǔn)技術(shù)對(duì)電路結(jié)構(gòu)進(jìn)行建模并準(zhǔn)確提取其各種參數(shù)是非常有實(shí)際工程意義的。本篇論文的主要工作創(chuàng)新包括以下三點(diǎn):1.研究了物理測(cè)量中去嵌方法與數(shù)值校準(zhǔn)方法的異同點(diǎn),對(duì)已有的數(shù)值校準(zhǔn)方法進(jìn)行了詳細(xì)的對(duì)比分析,根據(jù)電路結(jié)構(gòu)的不同,以選擇合適的計(jì)算電磁算法以及數(shù)值校準(zhǔn)技術(shù)對(duì)電路進(jìn)行建模并提取參數(shù)。2.解決了時(shí)域有限差分算法（FDTD）實(shí)現(xiàn)開短路校準(zhǔn)技術(shù)（SOC）的難點(diǎn)。針對(duì)時(shí)域有限差分算法的網(wǎng)格特點(diǎn),提出四種不同方法來實(shí)現(xiàn)FDTD-SOC算法。... 

【文章來源】：電子科技大學(xué)四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：82 頁

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

未經(jīng)過校準(zhǔn)與經(jīng)過SOC校準(zhǔn)結(jié)果對(duì)比

第三章 基于FDTD算法的SOC技術(shù)完全相同是合理的，誤差盒子包含了端口不連續(xù)及高階C數(shù)值校準(zhǔn)方法，可以計(jì)算出這兩個(gè)相同的誤差盒子的加，高階模式作為消逝模將快速衰減，最終參考平面上嵌校準(zhǔn)的部分也就是待測(cè)件DUT部分，在這個(gè)例子中就，在這一部分中確保僅有主模傳播，在這種情況下，隨傳播常數(shù)將收斂到固定值。

圖3-13 SIW傳播常數(shù)隨DUT長度變化12所示，隨饋線的長度變化對(duì)應(yīng)的歸一化相位常數(shù)及衰出，隨饋線的長度變化，當(dāng) 分別為2，3，4時(shí)，提取減常數(shù)逐漸收斂于固定值，說明其收斂性良好，從變化不階模影響較小，并且由于使用了微帶轉(zhuǎn)SIW轉(zhuǎn)換器，因37


本文編號(hào)：2907887