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軍用集成電路質(zhì)量控制方法分析與探討

發(fā)布時(shí)間:2019-05-22 21:32
【摘要】:集成電路是軍用電子設(shè)備最重要的器件之一,集成電路的質(zhì)量直接影響到軍用裝備的質(zhì)量。從集成電路的選擇、二次篩選和破壞性物理分析(DPA)這幾個(gè)方面探討了軍用集成電路的質(zhì)量控制方法。實(shí)踐證明通過(guò)質(zhì)量控制篩選得到的集成電路整批使用可靠性都有明顯的提高。
[Abstract]:Integrated circuit is one of the most important devices in military electronic equipment. The quality of integrated circuit directly affects the quality of military equipment. The quality control methods of military integrated circuits are discussed from the aspects of integrated circuit selection, secondary screening and destructive physical analysis (DPA). It is proved that the reliability of integrated circuits selected by quality control has been improved obviously.
【作者單位】: 中船重工第716研究所;
【分類號(hào)】:TN406

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1 劉萍;鄒勉;;破壞性物理分析技術(shù)初探[J];光電子技術(shù);2007年02期

2 廖友貴;微分析方法在DPA中的應(yīng)用[J];電子標(biāo)準(zhǔn)化與質(zhì)量;1999年04期

3 張延偉;電子元器件破壞性物理分析中幾個(gè)難點(diǎn)問(wèn)題的分析[J];電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn);2002年01期

4 郭秀盈;向東;段廣洪;楊繼平;丁曉宇;;拆解芯片的可重用性研究[J];微電子學(xué);2009年05期

5 張蕾;;電子元器件的破壞性物理分析方法的應(yīng)用[J];安徽電子信息職業(yè)技術(shù)學(xué)院學(xué)報(bào);2006年05期

6 范濤;魏波;景芳;;關(guān)于電子元器件的破壞性物理分析[J];科技創(chuàng)新與應(yīng)用;2013年23期

7 張磊;王旭;;元器件破壞性物理分析方法的定制開發(fā)[J];電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn);2011年04期

8 牛付林,宋芳芳;破壞性物理分析(DPA)在評(píng)價(jià)元器件質(zhì)量水平方面的作用[J];電子質(zhì)量;2004年04期

9 徐愛(ài)斌;施明哲;;SEM在電子元器件破壞性物理分析中的應(yīng)用[J];電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn);2006年04期

10 趙和義,鄭鵬洲;研究和處理DPA不合格的母體[J];半導(dǎo)體技術(shù);2003年09期

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1 劉眉存;胡圣;吳生虎;;電子元器件破壞性物理分析(DPA)綜述[A];第十一屆全國(guó)可靠性物理學(xué)術(shù)討論會(huì)論文集[C];2005年

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本文編號(hào):2483279

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