片上電源網(wǎng)絡(luò)EMI二維分布的測量方法
[Abstract]:Understanding the distribution of electromagnetic interference (EMI) in on-chip power distribution network can provide important information for the study of electromagnetic immunity of chips. An induction array is proposed to measure the distribution of EMI. The induction array is used to generate periodic noise on the power supply and its spectrum is used as the feedback signal, the on-chip power distribution network of the measured circuit is used as the transmission path of the feedback signal, and the power pin is used as the observation access point. This distributed measurement method does not need additional independent power supply network to supply power to the measurement circuit, and does not introduce additional chip pins. It is completely composed of digital standard units and is simple to implement. The induction array is designed under Global Foundry 180 nm process, and the feasibility of the method is verified by transistor level simulation and circuit experiment.
【作者單位】: 中山大學(xué)電子與信息工程學(xué)院;
【分類號】:TN40
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,本文編號:2478630
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