線列CCD光電響應(yīng)率測(cè)試
[Abstract]:On the basis of introducing the working principle of CCD, the definition and testing method of CCD responsivity are analyzed, the test system of CCD response rate of small light spot line is designed and made, and the construction and testing process of the test system are given. By changing the integral time of CCD and changing the exposure of CCD, thus changing the output signal of CCD, the response rate of CCD can be fitted from the linear region of the CCD response curve by selecting 2856K standard light source and constant illuminance. The test results show that the system can complete the CCD responsivity test and the structure is simple.
【作者單位】: 電子科技大學(xué)光電信息學(xué)院;
【基金】:電子科技大學(xué)本科教學(xué)改革研究項(xiàng)目(Y02012023701215,Y02012023701167)
【分類號(hào)】:TN386.5
【相似文獻(xiàn)】
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,本文編號(hào):2381133
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