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氧化亞銅薄膜的分子束外延生長研究

發(fā)布時間:2018-09-11 06:13
【摘要】:氧化亞銅在光伏電池、光催化、隨機存儲器、薄膜晶體管等領域具有廣闊的應用前景。它在玻色愛因斯坦凝聚等理論研究中也起著非常重要的作用。目前的研究主要關注于其在太陽能電池中的應用,氧化亞銅的原材料儲量豐富、無毒性以及低成本等優(yōu)點具有很大的優(yōu)勢。然而現(xiàn)在報道的最高轉換效率(6.1%)距離20%的理論極限還有很大差距。為了獲得高質量、低電阻的氧化亞銅薄膜,很有必要對氧化亞銅薄膜的生長行為開展系統(tǒng)的研究;谀壳暗难芯楷F(xiàn)狀,本文中使用了射頻等離子體輔助分子束外延技術,選擇氧化鎂和硅等立方晶系襯底,制備出氧化亞銅薄膜,并采用反射式高能電子衍射儀、X射線衍射儀、高分辨透射電子顯微鏡、原子力顯微鏡、掃描電子顯微鏡、光致發(fā)光譜等測試方法研究了氧化亞銅薄膜的生長動力學行為及光電特性。首先我們在氧化鎂(110)襯底上通過同質外延引入小面化的{100}面,然后在小面化的氧化鎂(110)襯底上使用兩步法外延出單一價態(tài)、單一相的氧化亞銅(113)薄膜。我們對該薄膜復雜的反射式高能電子衍射圖樣進行了仔細地分析,推斷出薄膜的取向關系以及180°旋轉疇的存在,并通過X射線衍射和高分辨透射電子顯微鏡的結果證實了這些結論。氧化亞銅(113)薄膜呈現(xiàn)連續(xù)、均勻的表面形貌,具有良好的電性,而這些特性可能是由于氧化亞銅與氧化鎂界面存在大量的失配位錯釋放應力而抑制島的形成所導致的。硅與氧化亞銅之間存在很大的失配,因此我們采用氧化鈹作為中間層和擴散勢壘,阻擋銅向硅中的擴散和反應。我們研究了不同的生長溫度對氧化亞銅緩沖層的影響,發(fā)現(xiàn)低溫會導致氧化亞銅多晶化,而高溫會使氧化鈹中間層發(fā)生相變從而使氧化亞銅向氧化銅轉變。于是我們采取雙緩沖層獲得了單一取向的氧化亞銅(111)薄膜。另外,我們在硅襯底上直接沉積銅膜并低溫氧化,結果并沒有發(fā)現(xiàn)氧化亞銅的相。所有樣品中都出現(xiàn)了硅化銅,它可能是氧化亞銅薄膜中高空穴遷移率的起源。
[Abstract]:Cuprous oxide has broad application prospects in photovoltaic cells, photocatalysis, random access memory, thin film transistors and other fields. It also plays a very important role in the theoretical study of Bose-Einstein condensation. However, the reported maximum conversion efficiency (6.1%) is far from the theoretical limit of 20%. In order to obtain high quality and low resistance cuprous oxide films, it is necessary to systematically study the growth behavior of cuprous oxide films. Cuprous oxide thin films were prepared by radio frequency plasma assisted molecular beam epitaxy on cubic substrates of magnesium oxide and silicon. Suboxide was studied by reflection high energy electron diffraction, X-ray diffraction, high resolution transmission electron microscopy, atomic force microscopy, scanning electron microscopy and photoluminescence spectroscopy. Growth kinetics and photoelectric properties of copper thin films. First, we introduce faceted {100} planes on magnesium oxide (110) substrates by homogeneous epitaxy, and then epitaxy single valence, single phase copper oxide (113) thin films on faceted magnesium oxide (110) substrates by two-step method. The diffraction patterns were carefully analyzed to deduce the orientation relationship and the existence of 180 degree rotation domains. These results were confirmed by X-ray diffraction and high-resolution transmission electron microscopy. The copper oxide (113) films exhibited continuous, uniform surface morphology and good electrical properties, which may be due to oxidation. There is a great mismatch between silicon and cuprous oxide, so we use beryllium oxide as the intermediate layer and diffusion barrier to prevent the diffusion and reaction of copper into silicon. We have studied the effect of different growth temperatures on the buffer layer of cuprous oxide. It was found that low temperature would lead to the polycrystallization of cuprous oxide, and high temperature would lead to the phase transition of beryllium oxide intermediate layer and the transition from cuprous oxide to cuprous oxide. Copper silicide appears in all the samples, which may be the origin of the high hole mobility in cuprous oxide films.
【學位授予單位】:北京郵電大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2015
【分類號】:TN304.21

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